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44 Treffer

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    Silizium-Halbleitertechnologie: mit 19 Tabellen und 39 Übungsaufgaben
    Ulrich Hilleringmann
    4., durchges. und erg. Aufl.. - Stuttgart [u.a.]: Teubner, 2004
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Semiconductor quantum dots: symposium held April 5 - 8, 1999, San Francisco, California, U.S.A
    ed.: Steven C. Moss ..
    Warrendale, Pa.: MRS, Materials Research Society, 2000
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Dedicated near field optical microscopies for semiconductor materials and devices
    Ronald M. Cramer
    Als Ms. gedr.. - Düsseldorf: VDI-Verl, 1999
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Light emission in silicon: from physics to devices
    vol. ed. David J. Lockwood
    San Diego [u.a.]: Acad. Press, 1998
    Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Grundlagen der optoelektronischen Halbleiterbauelemente
    von Hans-Günther Wagemann und Andreas Schmidt
    Stuttgart: Teubner, 1998
    Monographie, Lehrbuch, Gedruckte Ressource
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    Materials science in microelectronics, 2. The effects of structure on properties in thin films
    E. S. Machlin
    1. print.. - Croton-on-Hudson, NY: GiRo Press, 1998
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
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    Spektrale Analyse von Licht mittels Festkörpersensoren
    Thomas Otto
    Als Ms. gedr.. - Aachen: Shaker, 1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
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    Fundamentals of semiconductors: physics and materials properties ; with 50 tables and 105 problems
    Peter Y. Yu ; Manuel Cardona
    1. ed., corr. print.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1996
    Monographie, Gedruckte Ressource
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    Bestimmung lokaler nanometrischer Materialeigenschaften durch ein rastersondenmikroskopisches Hybridsystem
    vorgelegt von Martin Maywald
    1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Nanocharakterisierung von Halbleitermaterialien mittels kontaktloser Meßverfahren im Rastersondenmikroskop
    von Paul Koschinski
    1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Semiconductor device modeling with SPICE
    Giuseppe Massobrio ; Paolo Antognetti
    2. ed.. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Basic properties of semiconductors
    vol. ed.: P. T. Landsberg
    Amsterdam [u.a.]: North-Holland, 1992
    Sammelwerk, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Physics of submicron devices
    David K. Ferry and Robert O. Grondin
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Halbleiter: mit 29 Tabellen
    von Hanno Schaumburg
    Stuttgart: Teubner, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Quantum semiconductor structures: fundamentals and applications
    Claude Weisbuch ; Borge Vinter
    Boston [u.a.]: Acad. Press, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Characterization of semiconductor materials, 1: principles and methods
    ed. by Gary E. McGuire
    Park Ridge, NJ: Noyes, 1989
    Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Polycrystalline silicon for integrated circuit applications
    Ted Kamins
    Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publ, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    High temperature superconducting materials: preparations, properties, and processing
    ed. by William E. Hatfield ..
    New York [u.a.]: Dekker, 1988
    Konferenzschrift, Aufsatzsammlung, Sammelwerk, Gedruckte Ressource
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    Bonds and bands in semiconductors
    J. C. Phillips
    3. [Dr.]. - San Diego [u.a.]: Acad. Pr, [19]88
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen
    Wolfgang Schäfer ; Georg Terlecki
    Heidelberg: Hüthig, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource

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