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  1. Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung
    Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer (1990) ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl (1983), 1990; 1983
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  2. Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung
    Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer (1987) ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl (1983), 1987; 1983
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  3. International Conference on Pattern Recognition
    Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Soc, 1986
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  4. herausgegeben von G. Hartmann
    Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer (1986) ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl (1983), 1986; 1983
    Konferenzschrift, Sammelwerk, Teil eines Werkes, keine Angabe
  5. Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung
    Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer (1985) ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl (1983), 1985; 1983
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  6. Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung
    Berlin; Heidelberg; New York, NY; Barcelona; Hongkong; London; Mailand; Paris; Singapur; Tokio: Springer (1984) ; Berlin; Offenbach: VDE-Verl (1983), 1984; 1983
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  7. International Conference on Pattern Recognition
    Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Soc
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe
  8. International Conference on Pattern Recognition
    Los Alamitos, Calif.: IEEE Computer Soc
    Konferenzschrift, Monographie, Teil eines Werkes, keine Angabe

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