Zum Hauptinhalt springen
UB Wuppertal

Suchergebnisse

Katalog
34 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Katalog: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Zugang

Form

Literaturtyp

Schlagwort

Sprache

Standort

Quelle der Treffer

34 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Silizium-Halbleitertechnologie: mit 19 Tabellen und 39 Übungsaufgaben
    Ulrich Hilleringmann
    4., durchges. und erg. Aufl.. - Stuttgart [u.a.]: Teubner, 2004
    Monographie, Gedruckte Ressource
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Dedicated near field optical microscopies for semiconductor materials and devices
    Ronald M. Cramer
    Als Ms. gedr.. - Düsseldorf: VDI-Verl, 1999
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Grundlagen der optoelektronischen Halbleiterbauelemente
    von Hans-Günther Wagemann und Andreas Schmidt
    Stuttgart: Teubner, 1998
    Monographie, Lehrbuch, Gedruckte Ressource
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Materials science in microelectronics, 2. The effects of structure on properties in thin films
    E. S. Machlin
    1. print.. - Croton-on-Hudson, NY: GiRo Press, 1998
    Monographie, Teil eines Werkes, Gedruckte Ressource
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Fundamentals of semiconductors: physics and materials properties ; with 50 tables and 105 problems
    Peter Y. Yu ; Manuel Cardona
    1. ed., corr. print.. - Berlin [u.a.]: Springer, 1996
    Monographie, Gedruckte Ressource
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Spektrale Analyse von Licht mittels Festkörpersensoren
    Thomas Otto
    Als Ms. gedr.. - Aachen: Shaker, 1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Nanocharakterisierung von Halbleitermaterialien mittels kontaktloser Meßverfahren im Rastersondenmikroskop
    von Paul Koschinski
    1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Bestimmung lokaler nanometrischer Materialeigenschaften durch ein rastersondenmikroskopisches Hybridsystem
    vorgelegt von Martin Maywald
    1996
    Monographie, Hochschulschrift, Gedruckte Ressource
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Semiconductor device modeling with SPICE
    Giuseppe Massobrio ; Paolo Antognetti
    2. ed.. - New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1993
    Monographie, Gedruckte Ressource
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Physics of submicron devices
    David K. Ferry and Robert O. Grondin
    New York [u.a.]: Plenum Press, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Halbleiter: mit 29 Tabellen
    von Hanno Schaumburg
    Stuttgart: Teubner, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Quantum semiconductor structures: fundamentals and applications
    Claude Weisbuch ; Borge Vinter
    Boston [u.a.]: Acad. Press, 1991
    Monographie, Gedruckte Ressource
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Bonds and bands in semiconductors
    J. C. Phillips
    3. [Dr.]. - San Diego [u.a.]: Acad. Pr, [19]88
    Monographie, Gedruckte Ressource
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Polycrystalline silicon for integrated circuit applications
    Ted Kamins
    Boston [u.a.]: Kluwer Academic Publ, 1988
    Monographie, Gedruckte Ressource
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Halbleiterprüfung: Licht- und Rasterelektronenmikroskopie ; mit 12 Tabellen
    Wolfgang Schäfer ; Georg Terlecki
    Heidelberg: Hüthig, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    The stationary semiconductor device equations
    Peter A. Markowich
    Wien [u.a.]: Springer, 1986
    Monographie, Gedruckte Ressource
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Electronic properties of doped semiconductors
    B. I. Shklovskii ; A. L. Efros
    Berlin [u.a.]: Springer, 1984
    Monographie, Gedruckte Ressource
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Ionenimplantation in der Halbleitertechnik
    George Carter ; William A. Grant
    München [u.a.]: Hanser, 1981
    Monographie, Gedruckte Ressource
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Halbleiter-Technologie: vom Roh-Silizium zum integrierten Schaltkreis
    Peter Kästner
    Würzburg: Vogel, 1980
    Monographie, Gedruckte Ressource
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Fundamentals of semiconductor devices
    Edward S. Yang
    New York [u.a.]: McGraw-Hill, 1978
    Monographie, Gedruckte Ressource

Artikel & mehr

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -