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Wideband characterization of LCD baseband noise modulation for RF interference in mobile phones

Hwang, Chulsoon ; Enomoto, Takashi ; et al.
In: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI); (2017-08-01) S. 130-134
Online Konferenz

Titel:
Wideband characterization of LCD baseband noise modulation for RF interference in mobile phones
Autor/in / Beteiligte Person: Hwang, Chulsoon ; Enomoto, Takashi ; Maeshima, Junji ; Araki, Kenji ; Pommerenke, David ; Fan, Jun
Link:
Quelle: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI); (2017-08-01) S. 130-134
Veröffentlichung: 2017
Medientyp: Konferenz
ISBN: 978-1-5386-2229-2 (print) ; 978-1-5386-2228-5 (print) ; 978-1-5386-2231-5 (print) ; 978-1-5386-2230-8 (print)
ISSN: 2158-1118 (print)
DOI: 10.1109/ISEMC.2017.8077854
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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