At-speed scan test with low switching activity

Moghaddam, Elham K. ; Rajski, Janusz ; et al.

In: 28th VLSI Test Symposium (VTS); (2010-04-01) S. 177-182

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Titel:	At-speed scan test with low switching activity
Autor/in / Beteiligte Person:	Moghaddam, Elham K. ; Rajski, Janusz ; Kassab, Mark ; Reddy, Sudhakar M.
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Quelle:	28th VLSI Test Symposium (VTS); (2010-04-01) S. 177-182
Veröffentlichung:	2010
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4244-6649-8 (print) ; 978-1-4244-6648-1 (print) ; 978-1-4244-6650-4 (print)
ISSN:	1093-0167 (print) ; 2375-1053 (print)
DOI:	10.1109/VTS.2010.5469580
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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