Test-Pattern Grading and Pattern Selection for Small-Delay Defects

Yilmaz, Mahmut ; Chakrabarty, Krishnendu ; et al.

In: 26th IEEE VLSI Test Symposium; (2008-04-01) S. 233-239

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Titel:	Test-Pattern Grading and Pattern Selection for Small-Delay Defects
Autor/in / Beteiligte Person:	Yilmaz, Mahmut ; Chakrabarty, Krishnendu ; Tehranipoor, Mohammad
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Quelle:	26th IEEE VLSI Test Symposium; (2008-04-01) S. 233-239
Veröffentlichung:	2008
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-0-7695-3123-6 (print) ; 0-7695-3123-7 (print)
ISSN:	1093-0167 (print) ; 2375-1053 (print)
DOI:	10.1109/VTS.2008.32
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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