An Analysis Framework for Transient-Error Tolerance
In: 25th IEEE VLSI Test Symposium; (2007-05-01) S. 249-255
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Konferenz
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Titel: |
An Analysis Framework for Transient-Error Tolerance
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Autor/in / Beteiligte Person: | Hayes, John P. ; Polian, Ilia ; Becker, Bernd |
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Quelle: | 25th IEEE VLSI Test Symposium; (2007-05-01) S. 249-255 |
Veröffentlichung: | 2007 |
Medientyp: | Konferenz |
ISBN: | 0-7695-2812-0 (print) ; 978-0-7695-2812-0 (print) |
ISSN: | 1093-0167 (print) ; 2375-1053 (print) |
DOI: | 10.1109/VTS.2007.13 |
Sonstiges: |
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