Investigating the efficiency of integrator-based capacitor array testing techniques

Durbha, S.R. ; Laknaur, A. ; et al.

In: Proceedings. 24th IEEE VLSI Test Symposium; (2006) S. 1

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Titel:	Investigating the efficiency of integrator-based capacitor array testing techniques
Autor/in / Beteiligte Person:	Durbha, S.R. ; Laknaur, A. ; Wang, Haibo
Link:	Volltext
Quelle:	Proceedings. 24th IEEE VLSI Test Symposium; (2006) S. 1
Veröffentlichung:	2006
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	0-7695-2514-8 (print) ; 978-0-7695-2514-3 (print)
ISSN:	1093-0167 (print) ; 2375-1053 (print)
DOI:	10.1109/VTS.2006.42
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: Proceedings. 24th IEEE VLSI Test Symposium

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