A Comprehensive Approach for Enhancing Deep Learning Datasets Quality Using Combined SSIM Algorithm and FSRCNN

Khachatryan, Tigran ; Galstyan, Davit ; et al.

In: IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS); (2023-09-22) S. 1-4

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Titel:	A Comprehensive Approach for Enhancing Deep Learning Datasets Quality Using Combined SSIM Algorithm and FSRCNN
Autor/in / Beteiligte Person:	Khachatryan, Tigran ; Galstyan, Davit ; Harutyunyan, Eduard
Link:	Volltext
Quelle:	IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS); (2023-09-22) S. 1-4
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-1484-7 (print)
ISSN:	2472-761X (print)
DOI:	10.1109/EWDTS59469.2023.10297040
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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