Investigation of CDM ESD Protection Capability Among Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS ICs With Decoupling Capacitors

Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou ; et al.

In: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 11, page 84-94 ; ISSN 2168-6734, 2023

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Titel:	Investigation of CDM ESD Protection Capability Among Power-Rail ESD Clamp Circuits in CMOS ICs With Decoupling Capacitors
Autor/in / Beteiligte Person:	Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou ; Center for Neuromodulation Medical Electronics Systems from The Featured Areas Research Center Program by the Ministry of Education (MOE), Taiwan ; National Science and Technology Council (NSTC), Taiwan
Link:	https://doi.org/10.1109/jeds.2022.3228859 Volltext
Zeitschrift:	IEEE Journal of the Electron Devices Society ; volume 11, page 84-94 ; ISSN 2168-6734, 2023
Veröffentlichung:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2023
Medientyp:	academicJournal
DOI:	10.1109/jeds.2022.3228859
Schlagwort:	Electrical and Electronic Engineering Electronic, Optical and Magnetic Materials Biotechnology
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: unknown Document Type: article in journal/newspaper Language: unknown Rights: https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/legalcode

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