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Analytical Model of Random Variation in Drain Current of FGMOSFET.

Banchuin, Rawid
In: Active & Passive Electronic Components, Jg. 2015 (2015-07-15), S. 1-12
Online academicJournal

Titel:
Analytical Model of Random Variation in Drain Current of FGMOSFET.
Autor/in / Beteiligte Person: Banchuin, Rawid
Link:
Zeitschrift: Active & Passive Electronic Components, Jg. 2015 (2015-07-15), S. 1-12
Veröffentlichung: 2015
Medientyp: academicJournal
ISSN: 0882-7516 (print)
DOI: 10.1155/2015/315105
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Business Source Ultimate
  • Sprachen: English

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