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  1. Ha, Daewon ; Lee, Y. ; et al.
    In: 2024 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2024-05-12, S. 1-4
    Online Konferenz
  2. Zhao, Ying ; Rinaudo, Pietro ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-7
    Online Konferenz
  3. Rinaudo, Pietro ; Chasin, Adrian ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-6
    Online Konferenz
  4. Celiker, H. ; De Roose, F. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 59 (2024-06-01), Heft 6, S. 1858-1870
    Online academicJournal
  5. Zhuang, M. ; Wang, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 3691-3696
    Online academicJournal
  6. Jeong, J.H. ; Yoon, S.H. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 45 (2024-05-01), Heft 5, S. 849-852
    Online academicJournal
  7. Lin, Z. ; Kang, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 3002-3008
    Online academicJournal
  8. Liu, G. ; Kong, Q. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 2995-3001
    Online academicJournal
  9. Su, Y. ; Shi, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 3336-3342
    Online academicJournal
  10. Sihapitak, P. ; Bermundo, J.P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 2431-2437
    Online academicJournal
  11. Chen, Z. ; Yang, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-03-01), Heft 3, S. 1963-1968
    Online academicJournal
  12. Aslam, M. ; Chang, S. ; et al.
    In: IEEE Open Journal of Nanotechnology, Jg. 5 (2024), S. 9-16
    academicJournal
  13. Park, J. ; Yun, Y. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 228-235
    academicJournal
  14. Petrauskas, L.N. ; Kheradmand-Boroujeni, B. ; et al.
    In: IEEE Journal on Flexible Electronics, Jg. 3 (2024-02-01), Heft 2, S. 58-64
    Online academicJournal
  15. Kang, K. ; Park, J. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 7-13
    academicJournal
  16. Lebanov, A. ; Lopez, M.V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Biomedical Circuits and Systems, Jg. 18 (2024-02-01), Heft 1, S. 200-214
    Online academicJournal
  17. Rodriguez-Davila, R.A. ; Fernandez-Izquierdo, L. ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-6
    Online Konferenz
  18. Lu, Qingru ; Li, Bing ; et al.
    In: 2023 8th International Conference on Signal and Image Processing (ICSIP), 2023-07-08, S. 995-998
    Online Konferenz
  19. Pan, Zhong ; Hu, Yifan ; et al.
    In: Transactions on Electrical and Electronic Materials, 2024-04-26, S. 1-9
    academicJournal
  20. Lee, J.K. ; An, S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 44 (2023-11-01), Heft 11, S. 1845-1848
    Online academicJournal
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sm 576 - 768
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