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    Buch
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    Analysis of TID Effects on the Threshold Voltage and Breakdown Voltage of 100-V Split-Gate Trench VDMOS
    Wang, Y. ; Liu, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 3483-3489
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    The Effects of Threshold Voltage and Number of Fins Per Transistor on the TID Response of GF 12LP Technology
    Vidana, A.I. ; Dodds, N.A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 477-484
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Confidence-Based Approach to Include Survivors in a Probabilistic TID Failure Assessment
    Champagne, C.A. ; Sierawski, B.D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-04-01), Heft 4, S. 690-697
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Optimum Tuning of 1&2-dof TID-F Controllers for a MAGLEV System with Experimental Validation
    Dey, Soham ; Banerjee, Subrata ; et al.
    In: 2024 Third International Conference on Power, Control and Computing Technologies (ICPC2T), 2024-01-18, S. 223-228
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Anomalous TID Susceptibility on Collector Bias for SOI High-Voltage Polysilicon Emitter Bipolar Transistors
    Wei, J. ; Qiu, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-07-01), Heft 7, S. 4033-4038
    Online academicJournal
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    serialPeriodical
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    Impact of TID Irradiation on Static Noise Margin of 22 nm UTBB FD-SOI 6-T SRAM Cells
    Zheng, Q. ; Cui, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 71 (2024-03-01), Heft 3, S. 281-287
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Transit Search Optimization (TSO) based Tilted Integral Derivative (TID) Controller for Frequency Regulation of Deregulated Power System
    Gupta, Deepak Kumar ; Dei, Geetanjali ; et al.
    In: 2023 IEEE 3rd International Conference on Smart Technologies for Power, Energy and Control (STPEC), 2023-12-10, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    serialPeriodical
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    Improvement of AGC for Multi-Area Deregulated Power Systems with Integrated RESs using a modified TID.
    Vidyarthi, Prabhat Kumar ; Kumar, Ashiwani ; et al.
    In: 2023 IEEE 3rd International Conference on Smart Technologies for Power, Energy and Control (STPEC), 2023-12-10, S. 1-6
    Online Konferenz
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    TID Effects on Random Telegraph Signals in Bulk 90 nm MOSFET Devices
    Neuendank, Jereme ; Al Mamun, Fahad ; et al.
    In: 2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2023-10-08, S. 1-5
    Online Konferenz
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    Volltext
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    TID and DSEE Effects in a Voltage Clamp IC Prototype for Space Applications
    Mand, Philipp ; Burkhay, Volodymyr ; et al.
    In: 2023 13th European Space Power Conference (ESPC), 2023-10-02, S. 1-5
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Buch
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    TID and DSEE Effects in a Hi-Rel Point-of-Load IC Prototype for Space Applications
    Mand, Philipp ; Burkhay, Volodymyr ; et al.
    In: 2023 13th European Space Power Conference (ESPC), 2023-10-02, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    TID and DSEE Effects in a GaN FET Capable PWM Controller IC Prototype for Space Applications
    Mand, Philipp ; Burkhay, Volodymyr ; et al.
    In: 2023 13th European Space Power Conference (ESPC), 2023-10-02, S. 1-5
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Numerical Evaluation of P-Channel MOSFETs Depending on the TID Effect Using Electric-Thermal Analysis
    Choi, Na-Yeon ; Zhang, Sung-Uk
    In: 2024 25th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE), 2024-04-07, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Comparing Rectangular and ELT MOSFET layouts under TID
    Garcia, Paulo R. ; Grandesi, Guilherme I ; et al.
    In: 2023 37th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2023-08-28, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Review of TID Effects Reported in ProASIC3 and ProASIC3L FPGAs for 3D PLUS Camera Heads
    Bosser, A. L. ; Kohler, P. ; et al.
    In: 2023 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2023 NSREC), 2023-07-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Design of TID-Tolerant ADCs in Multivoltage Domain Based on Body Effect
    Huang, W. ; Liu, H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 2278-2284
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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