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18.663 Treffer

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    Influence of Localized Hot Carrier Degradation in DSOI Device Operating in MOSFET and BJT Modes
    Qian, Yijun ; Gao, Yuan ; et al.
    In: 2024 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2024-03-03, S. 1-3
    Online Konferenz
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    Exploring the Potentiality of ZnO-BJT for Efficient Detection of Low Concentration Alcohols Through Innovative Utilization of Transistor Properties
    Sil, I. ; Chakraborty, B. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 24 (2024-02-01), Heft 3, S. 2887-2894
    Online academicJournal
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    Volltext
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    A 0.0106 mm2 8nW Resistor-Less BJT Bandgap Reference in 65nm
    Feldman, Asaf ; Shor, Joseph
    In: ESSCIRC 2023- IEEE 49th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC), 2023-09-11, S. 85-88
    Online Konferenz
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    Non-Linear Analysis and Simulation of an Injection Locked Frequency Divider using a Complementary BJT Oscillator
    Metaxas, Konstantinos ; Alimisis, Vassilis ; et al.
    In: 2024 Panhellenic Conference on Electronics & Telecommunications (PACET), 2024-03-28, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Analysis and Design of Low Noise Voltage Regulator With Integrated Single BJT Bandgap Reference Upto 10 mA Loads
    Khan, A.A. ; Palani, R.K.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 2966-2970
    Online academicJournal
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    Volltext
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    A Novel SiC MOSFET Crosstalk Clamp Circuit Based on BJT Common -Base and Common- Collector
    Zhong, Minghao ; Li, Hao ; et al.
    In: 2022 5th International Conference on Power and Energy Applications (ICPEA), 2022-11-18, S. 592-598
    Online Konferenz
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    Modelling and Stability Analysis of a Fractional-Order RC Coupled BJT Amplifier
    Biswal, Kumar ; Kar, Sanjeeb Kumar ; et al.
    In: 2022 2nd Odisha International Conference on Electrical Power Engineering, Communication and Computing Technology (ODICON), 2022-11-11, S. 1-5
    Online Konferenz
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    3kV 6.7mΩ·cm2 4H-SiC BJT with An Effective Junction Termination Extension (JTE)
    Luo, Xixi ; Huang, Alex Q.
    In: 2022 IEEE 9th Workshop on Wide Bandgap Power Devices & Applications (WiPDA), 2022-11-07, S. 82-85
    Online Konferenz
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    High Linearity BJT-Based Time-Domain CMOS Temperature Sensor
    Lei, Yu ; Fang, Qishen ; et al.
    In: 2022 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS), 2022-11-11, S. 153-156
    Online Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Optimized Junction Termination Extension and Ring System for 11 kV 4H-SiC BJT
    Ammar, Ali ; Lazar, Mihai ; et al.
    In: 2022 International Semiconductor Conference (CAS), 2022-10-12, S. 191-194
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A BJT-Based 0.08-mm² Oversampling SAR Temperature-to-Digital Converter for Thermal Drift Compensation in MEMS Inertial Sensors
    Aprile, A. ; Folz, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 73 (2024), S. 1-11
    Online academicJournal
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Subranging BJT-Based CMOS Temperature Sensor With a ±0.45 °C Inaccuracy (3σ) From −50 °C to 180 °C and a Resolution-FoM of 7.2 pJ·K² at 150 °C
    Wang, B. ; Law, M.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-12-01), Heft 12, S. 3693-3703
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    BJT Performance Test Device
    Liu, Yongchao ; He, Bei
    In: 2022 4th International Conference on Intelligent Control, Measurement and Signal Processing (ICMSP), 2022-07-08, S. 116-119
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Analysis and Design of BJT Differential Amplifier
    Hashem, Muneer A.
    In: 2022 5th International Conference on Engineering Technology and its Applications (IICETA), 2022-05-31, S. 227-232
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    BjTT: A Large-scale Multimodal Dataset for Traffic Prediction
    Zhang, Chengyang ; Zhang, Yong ; et al.
    Online report
    Zugriff:
    Zum Datensatz bei Arxiv (Volltext)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    An 18nm ePCM with BJT selector NVM design for advanced microcontroller applications
    Conte, Antonino ; Tomaiuolo, Francesco ; et al.
    In: 2023 IEEE International Memory Workshop (IMW), 2023-05-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A BJT-Based Temperature-to-Frequency Converter With ± 1°C (3\Σ) Inaccuracy From – 40 °C to 140 °C for On-Chip Thermal Monitoring
    Park, J. ; Hwang, J. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 57 (2022-10-01), Heft 10, S. 2909-2918
    Online academicJournal
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    Volltext
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    A BJT-based SAR Temperature Sensor with a $5.12\ \text{pJ}\cdot \mathrm{K}^{2}$ Resolution FoM from −40 °C to 125 °C
    Qian, Fuyue ; Zhang, Xiaowei ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2023-05-21, S. 1-4
    Online Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Modeling the Avalanche Breakdown of the FMMT417 NPN BJT in the TINA Environment
    Yetkin, Mert ; Yelten, Mustafa Berke
    In: 2023 19th International Conference on Synthesis, Modeling, Analysis and Simulation Methods and Applications to Circuit Design (SMACD), 2023-07-03, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Volltext
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    BJTs in Space: ELDRS Experiment on NASA Space Environment Testbed
    Benedetto, A. R. ; Barnaby, H. J. ; et al.
    In: 2021 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), 2021-07-01, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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