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  1. Detailansicht für Treffer 21 öffnen
    ESD in CMOS Integrated Circuit
    Wang, Xuyang
    In: 2023 IEEE International Conference on Image Processing and Computer Applications (ICIPCA), 2023-08-11, S. 708-711
    Online Konferenz
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  2. Detailansicht für Treffer 22 öffnen
    Privacy-Preserving Integration of Face Recognition System and ESD Tester Using Federated Learning
    Lenin, S.B. ; Srivatsan, G. ; et al.
    In: 2023 International Conference on Circuit Power and Computing Technologies (ICCPCT), 2023-08-10, S. 1246-1250
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 23 öffnen
    Analyzing Repeatability During Air Discharge ESD Tests
    Gopalraj, Mohit ; Sanford, Thane
    In: 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC+SIPI), 2023-07-29, S. 460-465
    Online Konferenz
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    Volltext
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  4. Detailansicht für Treffer 24 öffnen
    A Combination of Implant Shadow and Skin Effects Leading to HV Devices Failure during the ESD Event
    Lee, Jian-Hsing ; Li, Ching-Ho ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-7
    Online Konferenz
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  5. Detailansicht für Treffer 25 öffnen
    An Acoustic Method to Measure the Length of an ESD Spark
    Krieger, Carina ; Wiesel, Leonie ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Online Konferenz
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  6. Detailansicht für Treffer 26 öffnen
    Influence of Return Current Cable Arrangement on Ringing Damped Oscillations in Contact Discharge Calibration Waveform from ESD Generator
    Tozawa, Yukihiro ; Ishida, Takeshi ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 27 öffnen
    Study on Enhancing ESD Reliability Through A Area Modulation of High-Voltage nLDMOSs with the Drain Embedded STI
    Lin, Ting-En ; Chen, Shen-Li ; et al.
    In: 2024 10th International Conference on Applied System Innovation (ICASI), 2024-04-17, S. 46-48
    Online Konferenz
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    Volltext
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  8. Detailansicht für Treffer 28 öffnen
    ESD Tolerance Improvement of Power Module using Clamp Diodes Built into Control IC
    Tadakuma, Toshiya ; Rogers, Michael ; et al.
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  9. Detailansicht für Treffer 29 öffnen
    New Power Clamp Circuit for Concurrent ESD and Surge Protections
    Yang, Z. ; Xu, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-09-01), Heft 9, S. 4538-4546
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 30 öffnen
    Development of an Experimental Instrumentation Dedicated to ESD Testing and Measurement on Nanosatellites
    Mateo-Velez, J. ; Issac, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 51 (2023-09-01), Heft 9, S. 2544-2549
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 31 öffnen
    Dependence of Solar Cell ESD Voltage Threshold on Cover Glass Secondary Emission Properties
    Hess, S.L. ; Payan, D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 51 (2023-09-01), Heft 9, S. 2556-2560
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 32 öffnen
    Enhancing ESD Performance of FinSCRs: Engineering Schemes to Address Current Localization and Failure Current Scalability
    Monishmurali, M. ; Shrivastava, M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-08-01), Heft 8, S. 4067-4074
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  13. Detailansicht für Treffer 33 öffnen
    ON-State Human Body Model ESD Failure Mechanisms in GaN-on-Si RF MIS-HEMTs
    Wu, W. ; Chen, S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 44 (2023-08-01), Heft 8, S. 1248-1251
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 34 öffnen
    Novel Multifunctional Transient Voltage Suppressor Technology for Modular EOS/ESD Protection Circuit Designs
    Qi, Zhao ; Qiao, Ming ; et al.
    In: 2023 35th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2023-05-28, S. 72-75
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 35 öffnen
    Low Trigger-Voltage Design of SCR Structure with Power-Rail ESD Clamp Circuit Network for On-Chip ESD Protection
    Yu, Bo ; Wang, Yang ; et al.
    In: 2022 10th International Symposium on Next-Generation Electronics (ISNE), 2023-05-12, S. 1-3
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 36 öffnen
    Design of Low Drop Out Regulator with High Robustness ESD Protection Circuit Using Current Buffer Structure
    Kwon, Sang Wook ; Jeong, Seung Gu ; et al.
    In: 2023 International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC), 2023-02-05, S. 1-4
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 37 öffnen
    Prediction of Radiated ESD fields in a typical Navigation Spacecraft
    R.L., Mini ; Raghavaiah, Vaddi ; et al.
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-4
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 38 öffnen
    Current Injection Effect on ESD Behaviors of the Parasitic Bipolar Transistors inside P+/N-well diode
    Wang, Hui ; Lai, Pengyu ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
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  19. Detailansicht für Treffer 39 öffnen
    A New Method for Improving 8V ESD Performance
    Wang, Chuang ; Qiu, Chenchen ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
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  20. Detailansicht für Treffer 40 öffnen
    Improved SEED Modeling of an ESD Discharge to a USB Cable
    Xu, Y. ; Zhou, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 65 (2023-06-01), Heft 3, S. 625-633
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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