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    Testing a Transistor-Level Programmable Fabric: Challenges and Solutions
    Jain, Apurva ; Broadfoot, Thomas ; et al.
    In: 2024 IEEE 42nd VLSI Test Symposium (VTS), 2024-04-22, S. 1-7
    Online Konferenz
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    Effective and Efficient Testing of Large Numbers of Inter-Die Interconnects in Chiplet-Based Multi-Die Packages
    Chuang, Po-Yao ; Lorenzelli, Francesco ; et al.
    In: 2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS), 2023-04-24, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Novel Technique for Manufacturing & In-system Testing of Large Scale SoC using Functional Protocol Based High-Speed I/O
    Pandey, Amit ; Tully, Brendan ; et al.
    In: 2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS), 2022-04-25, S. 1-7
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Automatic Test Pattern Generation for timing verification and delay testing of RSFQ circuits
    Wang, Fangzhou ; Gupta, Sandeep
    In: 2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS), 2019-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Special Session - Test for AI Chips: from DFT to On-line Testing
    Li, Huawei ; Li, Xiaowei ; et al.
    In: 2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS), 2021-04-25, S. 1-1
    Online Konferenz
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    An optimised SDD ATPG and SDQL computation method across different pattern sets
    Pradeep, Wilson ; Narayanan, Prakash ; et al.
    In: 2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS), 2017-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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    A framework for fast test generation at the RTL
    Gent, Kelson ; Agrawal, Akash ; et al.
    In: 2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS), 2017-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Effective generation and evaluation of diagnostic SBST programs
    Riefert, Andreas ; Cantoro, Riccardo ; et al.
    In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Using hardware testing approaches to improve software testing: Undetectable mutant identification
    Zhang, Jianwei ; Gupta, Sandeep K.
    In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Adaptive testing of analog/RF circuits using hardware extracted FSM models
    Deyati, Sabyasachi ; Muldrey, Barry J. ; et al.
    In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Impact of crosstalk and process variation on capture power reduction for at-speed test
    Piplani, Surya ; Visweswaran, G. S. ; et al.
    In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Test method and scheme for low-power validation in modern SOC integrated circuits
    Bhaskaran, Bonita ; Sanghani, Amit ; et al.
    In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Improving diagnosis resolution of a fault detection test set
    Riefert, Andreas ; Sauer, Matthias ; et al.
    In: 2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS), 2015-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Multi-cycle Circuit Parameter Independent ATPG for interconnect open defects
    Erb, Dominik ; Scheibler, Karsten ; et al.
    In: 2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS), 2015-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Improving CMOS open defect coverage using hazard activated tests
    Han, Chao ; Singh, Adit D.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Structural Software-Based Self-Test of Network-on-Chip
    Dalirsani, Atefe ; Imhof, Michael E. ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    An efficient diagnosis method to deal with multiple fault-pairs simultaneously using a single circuit model
    Wu, Cheng-Hung ; Lee, Kuen-Jong ; et al.
    In: 2014 IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS), 2014-04-01, S. 1-6
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Testing retention flip-flops in power-gated designs
    Hsu, Hao-Wen ; Kuo, Shih-Hua ; et al.
    In: 2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS), 2013-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Power supply noise control in pseudo functional test
    Zhang, Tengteng ; Hank Walker, Duncan M.
    In: 2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS), 2013-04-01, S. 1-6
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Improving test generation by use of majority gates
    Wohl, P. ; Waicukauski, J. A.
    In: 2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS), 2013-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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