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    Influence of technological parameters on the behavior during aging at high temperature of various packages, in the automotive environment
    Bahi, M.A. ; Lécuyer, P. ; et al.
    In: Proceedings of the IPFA 2007 ; IPFA 2007 ; https://hal.science/hal-00167720 ; IPFA 2007, Jul 2007, Bangalore, India. pp.0, 2007
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Influence of technological parameters on the behavior during aging at high temperature of various packages, in the automotive environment
    Bahi, M.A. ; Lécuyer, P. ; et al.
    In: Proceedings of the IPFA 2007 ; IPFA 2007 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00167720 ; IPFA 2007, Jul 2007, Bangalore, India. pp.0, 2007
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical OverStress/ElectroStatic Discharges (EOS/ESD) specificities in MEMS: outline of a protection strategy
    Caillard, Benjamin ; Pellet, Claude ; et al.
    In: Proceeding IEEE International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA'07) ; IEEE International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA'07) ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162196 ; IEEE International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA'07), Jul 2007, Bangalore, India. pp.6-1, 2007
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Improved physical understanding of intermittent failure in continuous monitoring method
    Maia Filho, Wilson Carlos ; Brizoux, Michel ; et al.
    In: Proceedings of the IPFA ; IPFA 2007 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00167714 ; IPFA 2007, Jul 2007, Bangalore, India. pp.0, 2007
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    IC Debug and Defect Localization using Dynamic Laser Stimulation and Time-Resolved Emission
    Ferrigno, Julie ; Perdu, Philippe ; et al.
    In: Proceedings of the 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) ; 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2007 ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204582 ; 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2007, Jul 2007, Bangalore, India. pp.229-234, 10.1109/IPFA.2007.4378090, ⟨10.1109/IPFA.2007.4378090⟩, 2007
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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