Zum Hauptinhalt springen
UB Wuppertal

Suchergebnisse

Katalog

Artikel & mehr
70 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Publikation

Inhaltsanbieter

70 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Design of High-Robustness LDO Regulator With Floating SCR Based ESD Protection Circuit Using High Gain Buffer
    Kwon, S. ; Do, K. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 33555-33568
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Privacy-Preserving Integration of Face Recognition System and ESD Tester Using Federated Learning
    Lenin, S.B. ; Srivatsan, G. ; et al.
    In: 2023 International Conference on Circuit Power and Computing Technologies (ICCPCT), 2023-08-10, S. 1246-1250
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Gate Grounded Trench I-MOS as an ESD Clamp for Sub-2V Applications
    Lahgere, A. ; Gupta, D.S.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 108938-108943
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    ESD-capability Study of High-voltage nLDMOSs with out the Drift Region DPW Effect
    Yang, Xiu-Yuan ; Mai, Xing-Chen ; et al.
    In: 2023 International Conference on Consumer Electronics - Taiwan (ICCE-Taiwan), 2023-07-17, S. 223-224
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Analysis Of CPU Loading Effect On ESD Susceptibility
    Izadi, Omid Hoseini ; Shumiya, Hideki ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2020-07-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Understanding ESD Induced Thermal Mechanism in FinFETs Through Predictive TCAD Simulation
    Li, Z. ; Zhu, B. ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Efficient Bidirectional protection structure for Plasma induced damage (PID) and Electrostatic discharge (ESD) for 3D IC Integration
    C.S., P. ; Cimino, S. ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Design Optimization of MV-NMOS for ESD Self-protection in 28nm CMOS technology
    Hwang, Kyongjin ; Karalkar, Sagar Premnath ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    An ESD and Interference-Robust Protection Circuit for Cascode Low-Noise Amplifier in CMOS-SOI Technology
    Kim, M. ; Jhon, H.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 75293-75301
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    ESD Robustness of GaN-on-Si Power Devices under Substrate Biases by means of TLP/VFTLP Tests
    Yang, Wen ; Stoll, Nicholas ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A Study of Transient Voltage Peaking in Diode-Based ESD Protection Structures in 28nm CMOS
    Wang, C. ; Zhang, F. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 87164-87172
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    On-Chip Transient Detection Circuit for Microelectronic Systems Against Electrical Transient Disturbances due to ESD Events
    Chen, Wen-Chieh ; Ker, Ming-Dou
    In: 2018 IEEE Region Ten Symposium (Tensymp), 2018-07-01, S. 36-39
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    SiC MOSFET robustness to ESD study: Correlation between electrical and spectral photo-emission characterizations
    Moultif, Niemat ; Joubert, Eric ; et al.
    In: 2018 19th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON), 2018-05-01, S. 260-264
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Experimental characterization and methodology for full-wave modeling of ESD to displays
    Rezaei, Hossein ; Peng, Zhekun ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2020-07-01, S. 182-187
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Threshold Voltage Shift in a-Si:H Thin film Transistors under ESD stress Conditions
    Sinha, Rajat ; Bhattacharya, Prasenjit ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Sub-nanosecond Reverse Recovery Measurement for ESD Devices
    Ayling, Alex ; Huang, Shudong ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-8
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    ESD reliability improvement of the 0.25-µm 60-V power nLDMOS with discrete embedded SCRs separated by STI structures
    Chen, Shen-Li ; Wu, Yi-Cih ; et al.
    In: 2016 IEEE 8th International Power Electronics and Motion Control Conference (IPEMC-ECCE Asia), 2016-05-01, S. 1611-1614
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    ESD performance analysis of automotive application based on improved Integrated Circuit ESD model
    Lafon, Frederic ; Fernandez-Lopez, Priscila ; et al.
    In: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2014-09-01, S. 494-499
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Fast method for determining significant electrical parameters of ESD-Textiles
    Salceanu, Alexandru ; Paulet, Marius Valerian ; et al.
    In: 2015 9th International Symposium on Advanced Topics in Electrical Engineering (ATEE), 2015-05-01, S. 348-351
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Study on the Effect Mechanism of the Bipolar Junction Transistor Caused by ESD
    Tan, Zhiliang ; Song, Peijiao ; et al.
    In: 2014 IEEE 17th International Conference on Computational Science and Engineering, 2014-12-01, S. 319-323
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -