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  1. Du, Feibo ; Chang, Kuan-Chang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-06-01), Heft 6, S. 3490-3493
    Online academicJournal
  2. Liu, Jizhi ; Liu, Yilin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 2534-2542
    Online academicJournal
  3. Wang, Zhixin ; Sun, Ruei-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-07-01), Heft 7, S. 2588-2594
    Online academicJournal
  4. Du, Feibo ; Qing, Yihong ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-03-01), Heft 3, S. 391-394
    Online academicJournal
  5. Lin, Chun-Yu ; Chen, Chun-Yu
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-06-01), Heft 6, S. 712-715
    Online academicJournal
  6. Lin, Chun-Yu ; Wu, Yi-Han ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-11-01), Heft 11, S. 1387-1390
    Online academicJournal
  7. Wang, Zhixin ; Klebanov, Maxim ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-11-01), Heft 11, S. 1121-1123
    Online academicJournal
  8. Sun, Ruei-Cheng ; Wang, Zhixin ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-05-01), Heft 5, S. 424-426
    Online academicJournal
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