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  1. Li, Han ; Xiao, De-yun ; et al.
    In: 2010 Conference on Control and Fault-Tolerant Systems (SysTol), 2010-10-01, S. 63-69
    Online Konferenz
  2. Long Do, V. ; Fillatre, L. ; et al.
    In: 2015 23rd European Signal Processing Conference (EUSIPCO), 2015-08-01, S. 2261-2265
    Online Konferenz
  3. Meyer, Hugo ; Wei, Peter ; et al.
    In: Sensors (14248220), Jg. 21 (2021-02-15), Heft 4, S. 1035-1035
    academicJournal
  4. Meyer, Hugo ; Wei, Peter ; et al.
    In: Sensors; Volume 21; Issue 4; Pages: 1035, 2021
    academicJournal
  5. Ling, S.H. ; Leung, F.H.F.
    In: Proceedings. 2005 IEEE International Joint Conference on Neural Networks,, Jg. 3 (2005), S. 1365-1365
    Online Konferenz
  6. Yu, D. ; Zhou, N. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. PP, Heft 99, S. 1-1
    academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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