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In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 87-92Online KonferenzZugriff:
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In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 395Online KonferenzZugriff:
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In: 24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, S. 1Online KonferenzZugriff: