Zum Hauptinhalt springen
UB Wuppertal

Suchergebnisse

Katalog

Artikel & mehr
57 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Art der Quelle

Thema

Publikation

Inhaltsanbieter

57 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Modeling an ESD Gun Discharge to a USB Cable
    Xu, Yang ; Zhou, Jianchi ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2022-08-01, S. 309-314
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Analyze the ESD Discrepancy between Grounded-Gate and Floating-Gate Power Transistors with Gate Electric Field and Magnetic Field Induced by ESD
    Lee, Jian-Hsing ; Nidhi, Karuna ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Wearable ESD Occurrence Rate Detection with Voltage Level Estimation
    Fellner, Gabriel ; Pommerenke, David Johannes ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 268-272
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Quantification of ESD Pulses Caused by Collision of Objects
    Fellner, Gabriel ; Pak, Amin ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 273-278
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    HV 65V nLDMOSs Engineering of ESD Enhancement by the Drain Side with Parasitic SCR Modulations
    Liu, Zhi-Wei ; Chen, Shen-Li ; et al.
    In: 2022 8th International Conference on Applied System Innovation (ICASI), 2022-04-22, S. 46-49
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    ESD-capability Study of High-voltage nLDMOSs with out the Drift Region DPW Effect
    Yang, Xiu-Yuan ; Mai, Xing-Chen ; et al.
    In: 2023 International Conference on Consumer Electronics - Taiwan (ICCE-Taiwan), 2023-07-17, S. 223-224
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    A Gate-Grounded NMOS-Based Dual-Directional ESD Protection With High Holding Voltage for 12V Application
    Do, K. ; Song, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 20 (2020-12-01), Heft 4, S. 716-722
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    An Overview of On-Chip ESD Protection in Modern Deep Sub-Micron CMOS Technology
    Angelov, George V. ; Dobrichkov, Boris D. ; et al.
    In: 2018 IEEE XXVII International Scientific Conference Electronics - ET, 2018-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    LVTSCR with High Holding Voltage for ESD Protection in 55nm CMOS Process
    Yang, Kai ; Liu, Jizhi ; et al.
    In: 2019 8th International Symposium on Next Generation Electronics (ISNE), 2019-10-01, S. 1-3
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A Novel DTSCR With Embedded MOS and Island Diodes for ESD Protection of High-Speed ICs
    Liang, H. ; Ma, Q. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 22 (2022-06-01), Heft 2, S. 306-311
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    ESD susceptibility evaluation on capacitive fingerprint module
    Wei, Pengyu ; Marathe, Shubhankar ; et al.
    In: 2017 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2017-08-01, S. 175-180
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Detection methods for secondary ESD discharge during IEC 61000-4-2 testing
    Marathe, Shubhankar ; Rezaei, Hossein ; et al.
    In: 2017 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2017-08-01, S. 152-157
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    EMC design modifications to solve field failure due to ESD - A case study
    Mahesh, G. ; Thomas, K. George ; et al.
    In: 2018 15th International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (INCEMIC), 2018-11-01, S. 1-3
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Measurement and Simulation of On-Chip Supply Noise Induced by System-Level ESD
    Xiu, Y. ; Thomson, N. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 19 (2019-03-01), Heft 1, S. 211-220
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Noise coupled to unshielded wire due to computed transient electromagnetic fields generated by ESD events in spacecraft
    Nandini, Narra Lakshmi ; Raghavaiah, Vaddi ; et al.
    In: 2016 International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (INCEMIC), 2016-12-01, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Experimental characterization and methodology for full-wave modeling of ESD to displays
    Rezaei, Hossein ; Peng, Zhekun ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2020-07-01, S. 182-187
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    ESD design methodology for tablets
    Vanga, Geetha ; Waghela, Yagnesh V
    In: 2016 International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (INCEMIC), 2016-12-01, S. 1-3
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Packaging for ESD sensitive items
    Neidoni, Nadina
    In: 2014 49th International Universities Power Engineering Conference (UPEC), 2014-09-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Experiment to educate ESD phenomena to engineers
    Buesink, Frits ; Vogt-Ardatjew, Robert ; et al.
    In: 2019 International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC EUROPE, 2019-09-01, S. 1159-1164
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    The Influence of N-Type Buried Layer on SCR ESD Protection Devices
    Wang, Y. ; Chen, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 20 (2020-12-01), Heft 4, S. 658-666
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -