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    Improving Data Integrity of IPFS On-Chain Proof
    Pandey, Gaurav ; Sahu, Gaurav ; et al.
    In: 2023 6th International Conference on Contemporary Computing and Informatics (IC3I), Jg. 6 (2023-09-14), S. 171-177
    Online Konferenz
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    Improved Credit Document Blockchain System Using EduCTX Platform with Decentralized Storage Filecoin
    Rachmawati, A. ; Adji, T.B. ; et al.
    In: 2023 International Conference on Information Technology and Computing (ICITCOM), 2023-12-01, S. 169-174
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Comparative Analysis of a Proposed Low-Power Adiabatic NOR Gate
    Ganguly, Chamak ; Meem, Mazeda Zafor ; et al.
    In: 2023 26th International Conference on Computer and Information Technology (ICCIT), 2023-12-13, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Dynamic Hot Carrier Degradation Behavior of Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Gate Voltage Pulse Stress with Fast Transition Time
    Zhang, Meng ; Wang, Yunyang ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-5
    Online Konferenz
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    Effects of N2 Pretreatment on Performance and Stabilities of Power p-GaN HEMTs
    Huang, Zhen-Hong ; Chang, Chia-Hao ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Investigations of 900V 4H-SiC Planar Power MOSFET for More Robust Reliability Performance
    Choi, Jake ; Lee, Kwangwon ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Off-State Current Degradation Behavior of Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors under Dynamic Drain Voltage Stress
    Zhang, Meng ; Song, Yiming ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
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    Analysis Of The Reliability Of Passivation Layer And Interface Charge On Breakdown Voltage of E-Mode AlGaN/GaN MISHEMTs Device
    Islam, Naeemul ; Packeer Mohamed, Mohamed Fauzi ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-7
    Online Konferenz
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    Study of voltage margin of Gate oxide TDDB between AC and DC stress
    Liu, Xiangyu ; Sun, Yongsheng ; et al.
    In: 2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023-07-24, S. 1-4
    Online Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Gate oxide TDDB reliability under various stress in sub-16nm FinFET technology
    Liu, Xiangyu ; Sun, Yongsheng ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Analyze the ESD Discrepancy between Grounded-Gate and Floating-Gate Power Transistors with Gate Electric Field and Magnetic Field Induced by ESD
    Lee, Jian-Hsing ; Nidhi, Karuna ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-6
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Analysis and Modeling for Reverse Body Bias Stress Impact on HCI Induced Degradation in n-Type EDMOS
    Cai, Miao ; Leang, Sern Ee ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-4
    Online Konferenz
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    High-Voltage a-IGZO Thin Film Transistor with the Symmetrical Stair Gate-Dielectric Structure
    Yang, Guangan ; Huang, Tingrui ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-4
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    Thermal instability failure analysis of Shielded-gate Trench MOSFET in linear mode
    Ren, Xinyu ; Ren, Min ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-4
    Online Konferenz
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    High-Voltage Electrostatic Discharge Protection Device development in 28nm BCDLite Technology
    Mahajan, Prantik ; Ganesan, Vishal ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-6
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Nanoprobing Technique using Additional Gate Biasing for Inaccessible Contact Structures
    Goh, Wai Ming ; Vu, Linh Viet ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-6
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    SiC/SiO2 interface traps effect on SiC MOSFETs Gate capacitance with biased Drain
    Matacena, Ilaria ; Maresca, Luca ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-5
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    Enhanced EBAC Detection on Gate Oxide Breakdown Isolation after High Voltage Electron Beam Irradiation
    Ng, P. T. ; Rivai, F. ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-6
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    VTH & Gm, max Instability Analysis of the Multiple GaN Chips based Cascode Power Module
    Elangovan, Surya ; Cheng, Stone ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-6
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Secure IoT Update Using Blockchain
    Kaptan, Melike ; Tomur, Emrah ; et al.
    In: 2021 2nd International Informatics and Software Engineering Conference (IISEC), 2021-12-16, S. 1-6
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