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In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 153-158Online KonferenzZugriff:
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In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 79Online KonferenzZugriff:
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In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 125Online KonferenzZugriff: