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    Low-capture-power at-speed testing using partial launch-on-capture test scheme
    Chen, Zhen ; Xiang, Dong
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 141-146
    Online Konferenz
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    CSER: BISER-based concurrent soft-error resilience
    Wang, Laung-Terng ; Touba, Nur A. ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 153-158
    Online Konferenz
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    Inconsistent Fail due to Limited Tester Timing Accuracy
    Park, Intaik ; Lee, Donghwi ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 47
    Online Konferenz
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    On the Detectability of Scan Chain Internal Faults An Industrial Case Study
    Yang, Fan ; Chakravarty, Sreejit ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 79
    Online Konferenz
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    Signature Rollback - A Technique for Testing Robust Circuits
    Amgalan, Uranmandakh ; Hachmann, Christian ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 125
    Online Konferenz
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    On low-capture-power test generation for scan testing
    Wen, Xiaoqing ; Yamashita, Y. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 265-270
    Online Konferenz
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    Segmented addressable scan architecture
    Al-Yamani, A. ; Chmelar, E. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 405-411
    Online Konferenz
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    Controlling peak power during scan testing
    Sankaralingam, R. ; Touba, N.A.
    In: Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002), 2002, S. 153-159
    Online Konferenz
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    Test vector modification for power reduction during scan testing
    Kajihara, S. ; Ishida, K. ; et al.
    In: Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002), 2002, S. 160-165
    Online Konferenz
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    Testable sequential circuit design: a partition and resynthesis approach
    Chou, R.M. ; Saluja, K.K.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 62-67
    Online Konferenz
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    Partial reset for synchronous sequential circuits using almost independent reset signals
    Xiang, Dong ; Xu, Yi
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 82-87
    Online Konferenz
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    Reducing power dissipation during test using scan chain disable
    Sankaralingam, R. ; Pouya, B. ; et al.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 319-324
    Online Konferenz
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    Defect Detection Differences between Launch-Off-Shift and Launch-Off-Capture in Sense-Amplifier-Based Flip-Flop Testing
    Konuk, Haluk
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 33
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Automated Selection of Signals to Observe for Efficient Silicon Debug
    Yang, Joon-Sung ; Touba, Nur A.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 79
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The ATPG Conflict-Driven Scheme for High Transition Fault Coverage and Low Test Cost
    Chen, Zhen ; Xiang, Dong ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 146
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    RT-Level Deviation-Based Grading of Functional Test Sequences
    Fang, Hongxia ; Chakrabarty, Krishnendu ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 264
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Dynamic Test Compaction for Transition Faults in Broadside Scan Testing Based on an Influence Cone Measure
    Xiang, Dong ; Yin, Boxue ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 251
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An Analysis Framework for Transient-Error Tolerance
    Hayes, John P. ; Polian, Ilia ; et al.
    In: 25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), 2007-05-01, S. 249
    Online Konferenz
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    Volltext
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    RTL Test Point Insertion to Reduce Delay Test Volume
    Balakrishnan, Kedarnath J. ; Fang, Lei
    In: 25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), 2007-05-01, S. 325
    Online Konferenz
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    Autoscan-Invert: An Improved Scan Design without External Scan Inputs or Outputs
    Pomeranz, Irith ; Reddy, Sudhakar M.
    In: 25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), 2007-05-01, S. 416
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