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    Too many faults, too little time on creating test sets for enhanced detection of highly critical faults and defects
    Shi, Yiwen ; Hu, Wan-Chan ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 319-324
    Online Konferenz
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    Low-capture-power at-speed testing using partial launch-on-capture test scheme
    Chen, Zhen ; Xiang, Dong
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 141-146
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    At-speed scan test with low switching activity
    Moghaddam, Elham K. ; Rajski, Janusz ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 177-182
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Low-power test planning for arbitrary at-speed delay-test clock schemes
    Zoellin, Christian G. ; Wunderlich, Hans-Joachim
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 93-98
    Online Konferenz
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    Identification of critical primitive path delay faults without any path enumeration
    Christou, Kyriakos ; Michael, Maria K. ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 9-14
    Online Konferenz
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    Dynamic Compaction for High Quality Delay Test
    Wang, Zheng ; Walker, D.M.H.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 243
    Online Konferenz
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    On the Detectability of Scan Chain Internal Faults An Industrial Case Study
    Yang, Fan ; Chakravarty, Sreejit ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 79
    Online Konferenz
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    Volltext
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    On the Relaxation of n-detect Test Sets
    Neophytou, Stelios ; Michael, Maria K.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 187
    Online Konferenz
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    Volltext
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    LS-TDF: Low-Switching Transition Delay Fault Pattern Generation
    Lee, Jeremy ; Tehranipoor, Mohammad
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 227
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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    Synthesis for Broadside Testability of Transition Faults
    Pomeranz, Irith ; Reddy, Sudhakar M.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 221
    Online Konferenz
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    Error Sequence Analysis
    Lee, Jaekwang ; Park, Intaik ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 255
    Online Konferenz
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    Fault Nodes in Implication Graph for Equivalence/Dominance Collapsing, and Identifying Untestable and Independent Faults
    Sethuram, Rajamani ; Bushnell, Michael L. ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 329
    Online Konferenz
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    Data retention fault in SRAM memories: analysis and detection procedures
    Dilillo, L. ; Girard, P. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 183-188
    Online Konferenz
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    Resistive Bridge fault model evolution from conventional to ultra deep submicron
    Polian, I. ; Engelke, P. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 343-348
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Experimental evaluation of bridge patterns for a high performance microprocessor
    Chakravarty, S. ; Chang, YiShing ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 337-342
    Online Konferenz
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    Diagnosis of sequence-dependent chips
    Li, J.C. M. ; McCluskey, E.J.
    In: Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002), 2002, S. 187-192
    Online Konferenz
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    Test pattern generation for signal integrity faults on long interconnects
    Attarha, A. ; Nourani, M.
    In: Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002), 2002, S. 336-341
    Online Konferenz
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    Compression technique for interactive BIST application
    Kay, D. ; Mourad, S.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 9-14
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    Hybrid BIST based on weighted pseudo-random testing: a new test resource partitioning scheme
    Jas, A. ; Krishna, C.V. ; et al.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 2-8
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    Breaking correlation to improve testability
    Ockunzzi, K. ; Papachristou, C.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 75-80
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