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    Design of High-Robustness LDO Regulator With Floating SCR Based ESD Protection Circuit Using High Gain Buffer
    Kwon, S. ; Do, K. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 33555-33568
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Design of pHEMT based MMIC frequency multiplier with On-Chip ESD Protection
    Menon, Rahul R ; Valke, Suman R ; et al.
    In: 2023 IEEE Microwaves, Antennas, and Propagation Conference (MAPCON), 2023-12-11, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Reduced RC Time Constant High Voltage Tolerant Supply Clamp for ESD Protection in 16nm FinFET Technology
    Huang, Shudong ; Parthasarathy, Srivatsan ; et al.
    In: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024-04-14, S. 1-7
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Privacy-Preserving Integration of Face Recognition System and ESD Tester Using Federated Learning
    Lenin, S.B. ; Srivatsan, G. ; et al.
    In: 2023 International Conference on Circuit Power and Computing Technologies (ICCPCT), 2023-08-10, S. 1246-1250
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Current Injection Effect on ESD Behaviors of the Parasitic Bipolar Transistors inside P+/N-well diode
    Wang, Hui ; Lai, Pengyu ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A New Method for Improving 8V ESD Performance
    Wang, Chuang ; Qiu, Chenchen ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    ESD Avalanche Diodes Degradation in EOS Regime
    Sarbishaei, Hossein ; Vashchenko, Vladislav
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Impact of Thin-oxide Gate on the On-Resistance of HV-PNP Under ESD Stress
    M, Monishmurali ; Kranthi, Nagothu Karmel ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Gate Grounded Trench I-MOS as an ESD Clamp for Sub-2V Applications
    Lahgere, A. ; Gupta, D.S.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 108938-108943
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    ESD-capability Study of High-voltage nLDMOSs with out the Drift Region DPW Effect
    Yang, Xiu-Yuan ; Mai, Xing-Chen ; et al.
    In: 2023 International Conference on Consumer Electronics - Taiwan (ICCE-Taiwan), 2023-07-17, S. 223-224
    Online Konferenz
    Zugriff:
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Design and Optimization of T-Coil-Enhanced ESD Circuit with Upsampling Convolutional Neural Network
    Li, Zonghao ; Carusone, Anthony Chan
    In: 2022 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS, 2022-06-19, S. 495-497
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    An ESD layout reliability verification method based on PERC
    Wu, Chao ; Li, Dejian ; et al.
    In: 2021 IEEE 2nd International Conference on Information Technology, Big Data and Artificial Intelligence (ICIBA), Jg. 2 (2021-12-17), S. 610-613
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Characterization of Backside ESD Impacts on Integrated Circuits
    Wadatsumi, Takuya ; Kawai, Kohei ; et al.
    In: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023-03-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Design Optimization of MV-NMOS to Improve Holding Voltage of a 28nm CMOS Technology ESD Power Clamp
    Karalkar, Sagar P ; Ganesan, Vishal ; et al.
    In: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021-03-01, S. 1-5
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Efficient Transient Thermal Simulation of Interconnects under ESD Stress by Laguerre-Based Finite Element Method
    Li, Bo ; Tang, Min ; et al.
    In: 2022 International Applied Computational Electromagnetics Society Symposium (ACES-China), 2022-12-09, S. 1-2
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Characterization of NMOS-based ESD Protection for Wide-range Pulse Immunity
    Morishita, Yasuyuki ; Maeda, Satoshi
    In: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021-03-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Analysis Of CPU Loading Effect On ESD Susceptibility
    Izadi, Omid Hoseini ; Shumiya, Hideki ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2020-07-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An ESD and Interference-Robust Protection Circuit for Cascode Low-Noise Amplifier in CMOS-SOI Technology
    Kim, M. ; Jhon, H.
    In: IEEE Access, Jg. 9 (2021), S. 75293-75301
    academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Understanding ESD Induced Thermal Mechanism in FinFETs Through Predictive TCAD Simulation
    Li, Z. ; Zhu, B. ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-4
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Efficient Bidirectional protection structure for Plasma induced damage (PID) and Electrostatic discharge (ESD) for 3D IC Integration
    C.S., P. ; Cimino, S. ; et al.
    In: 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020-04-01, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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