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    Robustness-Improved ESD Protection Devices With Low Leakage Using Middle Silicon Layer in Double SOI Technology
    Zhang, C. ; Li, X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-06-01), Heft 6, S. 3504-3509
    Online academicJournal
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    ESD Behavior of RF Switches and Importance of System Efficient ESD Design
    Mousavi, Seyed Mostafa ; Tauber, Emil ; et al.
    In: 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC+SIPI), 2023-07-29, S. 504-509
    Online Konferenz
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    Volltext
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    25Gbps Automotive Ethernet: System PHY Characterization of ESD Based EM Interferences
    Borda, Jamila Josip ; Gerfers, Friedel
    In: 2023 IEEE 28th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA), 2023-09-12, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Analyzing Repeatability During Air Discharge ESD Tests
    Gopalraj, Mohit ; Sanford, Thane
    In: 2023 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMC+SIPI), 2023-07-29, S. 460-465
    Online Konferenz
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    Influence of Return Current Cable Arrangement on Ringing Damped Oscillations in Contact Discharge Calibration Waveform from ESD Generator
    Tozawa, Yukihiro ; Ishida, Takeshi ; et al.
    In: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2023-09-04, S. 1-6
    Online Konferenz
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    Development of an Experimental Instrumentation Dedicated to ESD Testing and Measurement on Nanosatellites
    Mateo-Velez, J. ; Issac, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Plasma Science, Jg. 51 (2023-09-01), Heft 9, S. 2544-2549
    Online academicJournal
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    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    ON-State Human Body Model ESD Failure Mechanisms in GaN-on-Si RF MIS-HEMTs
    Wu, W. ; Chen, S. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 44 (2023-08-01), Heft 8, S. 1248-1251
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Comparison of ESD Damage Test for Common-Mode Chokes With ESD Gun and TLP-HMM
    Ito, H. ; Yoshida, M. ; et al.
    In: IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, Jg. 5 (2023-03-01), Heft 1, S. 10-15
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Analyze the ESD Discrepancy between Grounded-Gate and Floating-Gate Power Transistors with Gate Electric Field and Magnetic Field Induced by ESD
    Lee, Jian-Hsing ; Nidhi, Karuna ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2022-07-18, S. 1-6
    Online Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Modeling an ESD Gun Discharge to a USB Cable
    Xu, Yang ; Zhou, Jianchi ; et al.
    In: 2022 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), 2022-08-01, S. 309-314
    Online Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Wearable ESD Occurrence Rate Detection with Voltage Level Estimation
    Fellner, Gabriel ; Pommerenke, David Johannes ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 268-272
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Quantification of ESD Pulses Caused by Collision of Objects
    Fellner, Gabriel ; Pak, Amin ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 273-278
    Online Konferenz
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    ESD-capability Study of High-voltage nLDMOSs with out the Drift Region DPW Effect
    Yang, Xiu-Yuan ; Mai, Xing-Chen ; et al.
    In: 2023 International Conference on Consumer Electronics - Taiwan (ICCE-Taiwan), 2023-07-17, S. 223-224
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    HV 65V nLDMOSs Engineering of ESD Enhancement by the Drain Side with Parasitic SCR Modulations
    Liu, Zhi-Wei ; Chen, Shen-Li ; et al.
    In: 2022 8th International Conference on Applied System Innovation (ICASI), 2022-04-22, S. 46-49
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Standalone Graph-Theory Based Tool for Full-Chip ESD Verification
    Galic, V. ; Wieers, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 64 (2022-12-01), Heft 6, S. 1859-1870
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    ESD Events to Wearable Medical Devices in Healthcare Environments—Part 1: Current Measurements
    Kohani, M. ; Meiguni, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 65 (2023-08-01), Heft 4, S. 954-959
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    ESD HBM Discharge Model in RF GaN-on-Si (MIS)HEMTs
    Wu, W. ; Ker, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-04-01), Heft 4, S. 2180-2187
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Effect of Approach Speed on Spark Length determining Air Discharge Current from ESD Generator in Environment with Different Temperature and Humidity
    Ishida, Takeshi ; Tozawa, Yukihiro ; et al.
    In: 2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, 2021-07-26, S. 1153-1158
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Unique Rise Time Sensitivity Leading to Air Discharge System-Level ESD Failures in Bidirectional High Voltage SCRs
    Kranthi, N.K. ; Sarro, J.D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 2552-2559
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Study on ESD Protection Device Based on 4H-SiC GGNMOS with Improved Snapback Characteristics
    Joung, Jang-Han ; Kwon, Sang-Wook ; et al.
    In: 2022 International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC), 2022-02-06, S. 1-3
    Online Konferenz
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