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    Fault equivalence identification using redundancy information and static and dynamic extraction
    Amyeen, M.E. ; Fuchs, W.K. ; et al.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 124-130
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Iterative OPDD based signal probability calculation
    Dutta, A. ; Touba, N.A.
    In: 24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, S. 1
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    X-IDDQ: a novel defect detection technique using IDDQ data
    Sharma, A. ; Jayasumana, A.P. ; et al.
    In: 24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, S. 1
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -