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In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 2-8Online KonferenzZugriff:
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In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 59Online KonferenzZugriff:
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In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 146Online KonferenzZugriff:
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