Suchergebnisse
Katalog
Artikel & mehr
Suchmaske
Suchergebnisse einschränken oder erweitern
Aktive Suchfilter
Weniger Treffer
Art der Quelle
Thema
- automatic test pattern generation 1 Treffer
- automatic testing 1 Treffer
- centralized control 1 Treffer
- circuit synthesis 1 Treffer
- correlation 1 Treffer
-
12 weitere Werte:
- energy consumption 1 Treffer
- logic circuits 1 Treffer
- power engineering and energy 1 Treffer
- power generation 1 Treffer
- reordering 1 Treffer
- scan-chain 1 Treffer
- semiconductor device testing 1 Treffer
- signal design 1 Treffer
- signal generators 1 Treffer
- terminology 1 Treffer
- test pattern generators 1 Treffer
- timing 1 Treffer
Publikation
Inhaltsanbieter
2 Treffer
-
In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 147Online KonferenzZugriff:
-
In: 24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, S. 1Online KonferenzZugriff: