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In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 215-220Online KonferenzZugriff:
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In: 25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), 2007-05-01, S. 84Online KonferenzZugriff:
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In: 25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), 2007-05-01, S. 205Online KonferenzZugriff: