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In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 62-67Online KonferenzZugriff:
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In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 252-257Online KonferenzZugriff:
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In: 24th IEEE VLSI Test Symposium, 2006, S. 1Online KonferenzZugriff: