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  1. Angelov, George V. ; Dobrichkov, Boris D. ; et al.
    In: 2018 IEEE XXVII International Scientific Conference Electronics - ET, 2018-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
  2. Altolaguirre, F.A. ; Ker, M.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 15 (2015-06-01), Heft 2, S. 156-156
    Online academicJournal
  3. Liu, Jizhi ; Liu, Yilin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 2534-2542
    Online academicJournal
  4. Bouangeune, Daoheung ; Song, Young Joo ; et al.
    In: The 18th IEEE International Symposium on Consumer Electronics (ISCE 2014), 2014-06-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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