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    Design of High-Robustness LDO Regulator With Floating SCR Based ESD Protection Circuit Using High Gain Buffer
    Kwon, S. ; Do, K. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 12 (2024), S. 33555-33568
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    ESD/Latch-Up Reliability Enhancements of HV nLDMOSs by Drain-End Horizontally Embedding Different Discrete P+ SCRs
    Yang, Xiu-Yuan ; Chen, Shen-Li ; et al.
    In: 2024 10th International Conference on Applied System Innovation (ICASI), 2024-04-17, S. 1-2
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Study on Enhancing ESD Reliability Through A Area Modulation of High-Voltage nLDMOSs with the Drain Embedded STI
    Lin, Ting-En ; Chen, Shen-Li ; et al.
    In: 2024 10th International Conference on Applied System Innovation (ICASI), 2024-04-17, S. 46-48
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    ESD Tolerance Improvement of Power Module using Clamp Diodes Built into Control IC
    Tadakuma, Toshiya ; Rogers, Michael ; et al.
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Design of Low Drop Out Regulator with High Robustness ESD Protection Circuit Using Current Buffer Structure
    Kwon, Sang Wook ; Jeong, Seung Gu ; et al.
    In: 2023 International Conference on Electronics, Information, and Communication (ICEIC), 2023-02-05, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Prediction of Radiated ESD fields in a typical Navigation Spacecraft
    R.L., Mini ; Raghavaiah, Vaddi ; et al.
    In: 2023 Joint Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility and International Conference on ElectroMagnetic Interference & Compatibility (APEMC/INCEMIC), 2023-05-23, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A New Method for Improving 8V ESD Performance
    Wang, Chuang ; Qiu, Chenchen ; et al.
    In: 2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC), 2024-03-17, S. 1-3
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    ESD Challenges in 300nm Si Substrate of DTCO/STCO Scaling Options
    Chen, W. C. ; Chen, S. H. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    ESD HBM 3kV Discharge for Monolithic GaN-on-Si HEMTs Integrated Chips
    Wang, T. W. ; Go, C. L. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    ESD Reliability in Advanced Nodes
    Poon, Steven S. ; Kao, Ming-Hong ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Gate Grounded Trench I-MOS as an ESD Clamp for Sub-2V Applications
    Lahgere, A. ; Gupta, D.S.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 108938-108943
    academicJournal
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    Impact of the injection point selection during indirect application of ESD pulses according to IEC 61000-4-2
    Papastamatis, Panagiotis K. ; Lamprinos, Theodosios K. ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 753-757
    Online Konferenz
    Zugriff:
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Wearable ESD Occurrence Rate Detection with Voltage Level Estimation
    Fellner, Gabriel ; Pommerenke, David Johannes ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 268-272
    Online Konferenz
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    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Distance Characteristics of Field Peak Value of Transient Electric Field Caused by Sphere-Gap ESD Using a Optical E-Field Probe
    Kawamata, Ken ; Ishigami, Shinobu ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 321-324
    Online Konferenz
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    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Quantification of ESD Pulses Caused by Collision of Objects
    Fellner, Gabriel ; Pak, Amin ; et al.
    In: 2022 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, 2022-09-05, S. 273-278
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    ESD-capability Study of High-voltage nLDMOSs with out the Drift Region DPW Effect
    Yang, Xiu-Yuan ; Mai, Xing-Chen ; et al.
    In: 2023 International Conference on Consumer Electronics - Taiwan (ICCE-Taiwan), 2023-07-17, S. 223-224
    Online Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Essential Steps to Enable Analyzing Effective Resistance of ESD Paths-PG Routing Network Pruning and Resistance Contribution by Layer
    Feng, Frank ; Huang, Abner ; et al.
    In: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2023-06-26, S. 1-4
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Experimental Study of Transient Dose Rate Effects of Two Level-Shifting Transceivers and Simulations on Their ESD Circuits
    Guo, Y. ; Li, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 1157-1166
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    RC-Triggered Silicon Controlled Rectifier-based ESD Clamp with Fast Transient Reaction
    Pan, Lingran ; Zhang, Wenwen ; et al.
    In: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2023-06-26, S. 1-3
    Online Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Design and Optimization of RC Triggered MV-NMOS for 28NM CMOS Technology ESD Protection
    Zhu, Jia ; Wei, Lanying ; et al.
    In: 2023 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2023-06-26, S. 1-3
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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