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    Adaptive testing of analog/RF circuits using hardware extracted FSM models
    Deyati, Sabyasachi ; Muldrey, Barry J. ; et al.
    In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS), 2016-04-01, S. 1-6
    Online Konferenz
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    A novel hybrid delay testing scheme with low test power, volume, and time
    Chen, Zhen ; Seth, Sharad ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 307-312
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Too many faults, too little time on creating test sets for enhanced detection of highly critical faults and defects
    Shi, Yiwen ; Hu, Wan-Chan ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 319-324
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Low power compression architecture
    Bhatia, Sandeep
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 183-187
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Application of signal and noise theory to digital VLSI testing
    Yogi, Nitin ; Agrawal, Vishwani D.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 215-220
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    A generic low power scan chain wrapper for designs using scan compression
    Sabne, Amit ; Tiwari, Rajesh ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 135-140
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Impact of multiple input switching on delay test under process variation
    Wu, Sean H. ; Chakravarty, Sreejit ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 87-92
    Online Konferenz
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    An output compression scheme for handling X-states from over-clocked delay tests
    Singh, Adit ; Han, Chao ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 57-62
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Identification of critical primitive path delay faults without any path enumeration
    Christou, Kyriakos ; Michael, Maria K. ; et al.
    In: 2010 28th VLSI Test Symposium (VTS), 2010-04-01, S. 9-14
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Dynamic Compaction for High Quality Delay Test
    Wang, Zheng ; Walker, D.M.H.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 243
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    On the Detectability of Scan Chain Internal Faults An Industrial Case Study
    Yang, Fan ; Chakravarty, Sreejit ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 79
    Online Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Bounded Adjacent Fill for Low Capture Power Scan Testing
    Chandra, Anshuman ; Kapur, Rohit
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 131
    Online Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Test-Pattern Grading and Pattern Selection for Small-Delay Defects
    Yilmaz, Mahmut ; Chakrabarty, Krishnendu ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 233
    Online Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Fault Nodes in Implication Graph for Equivalence/Dominance Collapsing, and Identifying Untestable and Independent Faults
    Sethuram, Rajamani ; Bushnell, Michael L. ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 329
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    An Industrial Case Study of Sticky Path-Delay Faults
    Huang, I-De ; Chang, Yi-Shing ; et al.
    In: 26th IEEE VLSI Test Symposium (vts 2008), 2008-04-01, S. 395
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    At-speed transition fault testing with low speed scan enable
    Ahmed, N. ; Ravikumar, C.P. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 42-47
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Measures to improve delay fault testing on low-cost testers - a case study
    Beck, M. ; Barondeau, O. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 223-228
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    On low-capture-power test generation for scan testing
    Wen, Xiaoqing ; Yamashita, Y. ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 265-270
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Jump scan: a DFT technique for low power testing
    Chiu, Min-Hao ; Li, J.C. M.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 277-282
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    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Experimental evaluation of bridge patterns for a high performance microprocessor
    Chakravarty, S. ; Chang, YiShing ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 337-342
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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