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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Testable sequential circuit design: a partition and resynthesis approach
    Chou, R.M. ; Saluja, K.K.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 62-67
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Diagnosis of tunneling opens
    Li, J.C. M. ; McCluskey, E.J.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 22-27
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A geometric-primitives-based compression scheme for testing systems-on-a-chip
    El-Maleh, A. ; al Zahir, S. ; et al.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 54-59
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Partial reset for synchronous sequential circuits using almost independent reset signals
    Xiang, Dong ; Xu, Yi
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 82-87
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Analysis of testing methodologies for custom designs in PowerPC/sup TM/ microprocessor
    Abadir, M.S. ; Ju Hong Zhu ; et al.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 252-257
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    SPIRIT: a highly robust combinational test generation algorithm
    Gizdarski, E. ; Fujiwara, H.
    In: Proceedings 19th IEEE VLSI Test Symposium. VTS 2001, 2001, S. 346-351
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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