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    Dark Current Characterization of SW HgCdTe IRFPAs Detectors on Si Substrate with Long Time Integration
    Song, P. Y. ; Ye, Z. H. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 45 (2016-09-01), Heft 9, S. 4711-4715
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Progress in CdZnTe substrate producibility and critical drivers of IRFPA yield originating with CdZnTe substrates
    Price, S. L. ; Hettich, H. L. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 27 (1998-06-01), Heft 6, S. 564-572
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    High-Performance Field-Effect Transistor Fabricated on CVD-Grown MoS<subscript>2</subscript> Monolayers with Indium Contacts
    Mustafa, Hina ; Khan, Jahangir ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 52 (2023-11-01), Heft 11, S. 7157-7163
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    CdZnTe substrate producibility and its impact on IRFPA yield
    Sen, Sanghamitra ; Hettich, Herbert L. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 28 (1999-06-01), Heft 6, S. 718-725
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    MOCVD grown CdZn Te/GaAs/Si substrates for large-area HgCdTe IRFPAs
    Johnson, S. M. ; Vigil, J. A. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 22 (1993-08-01), Heft 8, S. 835-842
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Temperature Effect on Electronic Parameters of CuPc/n-Si Heterojunction
    Ullah, Irfan ; Shah, Mutabar ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 48 (2019-09-01), Heft 9, S. 5609-5616
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    High-Performance Field-Effect Transistor Fabricated on CVD-Grown MoS<subscript>2</subscript> Monolayers with Indium Contacts.
    Mustafa, Hina ; Khan, Jahangir ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 52 (2023-11-01), Heft 11, S. 7157-7163
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Estimation of Thickness and Cadmium Composition Distributions in HgCdTe Focal Plane Arrays
    Mouzali, S. ; Lefebvre, S. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 45 (2016-09-01), Heft 9, S. 4607-4611
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Investigation of Effects of Diameter, Doping and Vacancy Defects on the Band Structure and Transport Properties of Silicon Nanowires for Potential Applications in Field-Effect Transistors
    Irfan, Muhammad ; Sattar, Abdul ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 48 (2019-05-01), Heft 5, S. 2761-2769
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Optoelectronic Structure and Related Transport Properties of Ag<subscript>2</subscript>Sb<subscript>2</subscript>O<subscript>6</subscript> and Cd<subscript>2</subscript>Sb<subscript>2</subscript>O<subscript>7</subscript>
    Irfan, Muhammad ; Hussain, Safdar ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, 2017-11-28, S. 1-9
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Numerical Simulation of Refractive-Microlensed HgCdTe Infrared Focal Plane Arrays Operating in Optical Systems
    Li, Yang ; Ye, Zhen-Hua ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 43 (2014-08-01), Heft 8, S. 2879-2887
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Development of MBE II–VI Epilayers on GaAs(211)B
    Jacobs, R.N. ; Nozaki, C. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 41 (2012-10-01), Heft 10, S. 2707-2713
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Consistency in Al/CuPc/n-Si Heterojunction Diode Parameters Extracted Using Different Techniques
    Ullah, Irfan ; Shah, Mutabar ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 45 (2016-02-01), Heft 2, S. 1175-1183
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Dielectric Behavior and Magnetic Properties of Mn-Substituted Ni–Zn Ferrites
    Irfan, Muhammad ; Niaz, N. A. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 44 (2015-07-01), Heft 7, S. 2369-2377
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    CH<subscript>4</subscript>/Ar/H<subscript>2</subscript>/SF<subscript>6</subscript> Plasma Etching for Surface Oxide Removal of Indium Bumps
    Huang, Yue ; Lin, Chun ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 44 (2015-07-01), Heft 7, S. 2467-2472
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Structural and Superconducting Properties of (Al<subscript>2</subscript>O<subscript>3</subscript>)<subscript> y </subscript>/CuTl-1223 Composites
    Jabbar, Abdul ; Qasim, Irfan ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 44 (2015), Heft 1, S. 110-116
    academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Improved operability in Hg<subscript>1−x</subscript>Cd<subscript>x</subscript>Te detector arrays
    Hutchins, M. A. ; Smith, F. T. J. ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 28 (1999-06-01), Heft 6, S. 624-629
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Effect of Ag Content and the Minor Alloying Element Fe on the Mechanical Properties and Microstructural Stability of Sn-Ag-Cu Solder Alloy Under High-Temperature Annealing
    Shnawah, Dhafer Abdulameer ; Sabri, Mohd Faizul Mohd ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 42 (2013-03-01), Heft 3, S. 470-484
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    High-Reliability Low-Ag-Content Sn-Ag-Cu Solder Joints for Electronics Applications
    Shnawah, Dhafer Abdulameer ; Said, Suhana Binti Mohd ; et al.
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 41 (2012-09-01), Heft 9, S. 2631-2658
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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