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    Design and Simulation of HiGBt, a 5 Gb/s SerDes for Heavy-Ion Physics Experiments
    Niu, X. ; Han, W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 70 (2023-06-01), Heft 6, S. 1083-1089
    Online academicJournal
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    AGILE Instrument: Advanced Energetic Ion Electron Telescope
    Royon, C. ; d'Assignies, W. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 69 (2022-04-01), Heft 4, S. 811-817
    Online academicJournal
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    Intercomparison of Ionizing Doses From Space Shielding Analyses Using MCNP, Geant4, FASTRAD, and NOVICE
    Jun, B. ; Zhu, B.X. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 1629-1636
    Online academicJournal
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    Heavy Ion Transport Modeling for Single-Event Burnout in SiC-Based Power Devices
    McPherson, J.A. ; Kowal, P.J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019), Heft 1, S. 474-481
    Online academicJournal
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    Investigation of Threshold Ion Range for Accurate Single Event Upset Measurements in Both SOI and Bulk Technologies
    Zhang, Z. ; Liu, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 61 (2014-06-01), Heft 3, S. 1459-1467
    Online academicJournal
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    Heavy Ion Radiation Effects on a 130-nm COTS NVSRAM Under Different Measurement Conditions
    Liu, T. ; Liu, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 65 (2018-05-01), Heft 5, S. 1119-1119
    Online academicJournal
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    A Method for Estimating SEU Rates From Protons by Direct Ionization
    Edmonds, L. D. ; Edmonds, K. J.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-10-01), Heft 5, S. 2666-2678
    Online academicJournal
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    Semi-Empirical LET Descriptions of Heavy Ions Used in the European Component Irradiation Facilities
    Javanainen, A. ; Trzaska, W. H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 57 (2010-08-01), Heft 4, S. 1946-1949
    Online academicJournal
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    Heavy-Ion Induced Charge Yield in MOSFETs
    Javanainen, A. ; Schwank, J. R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 56 (2009-12-01), Heft 6, S. 3367-3371
    Online academicJournal
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    Solid State Microdosimetry With Heavy Ions for Space Applications
    Wroe, A. ; Rosenfeld, A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 54 (2007-12-01), Heft 6, S. 2264-2271
    Online academicJournal
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    Defect characterization in silicon particle detectors irradiated with Li ions
    Scaringella, M. ; Menichelli, D. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 53 (2006-04-01), Heft 2, S. 589-594
    Online academicJournal
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    Assessment of neutron- and proton-induced nuclear interaction and ionization models in Geant4 for Simulating single event effects
    Truscott, P. ; Lei, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 51 (2004-12-01), Heft 6, S. 3369-3374
    Online academicJournal
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    Beam tests of ionization chambers for the NuMI neutrino beam
    Zwaska, R.M. ; Hall, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-08-01), Heft 4, S. 1129-1135
    Online academicJournal
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    Comparison of ionizing radiation effects in 0.18 and 0.25 /spl mu/m CMOS technologies for analog applications
    Manghisoni, M. ; Ratti, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-12-01), Heft 6, S. 1827-1833
    Online academicJournal
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    Microdose analysis of ion strikes on SRAM cells
    Scheick, L.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-12-01), Heft 6, S. 2399-2406
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Numerical simulation design study of a positron camera for heavy-ion radiotherapy
    Iseki, Y. ; Futami, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 48 (2001-08-01), Heft 4, S. 1550-1560
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Proton displacement damage and ionizing dose for shielded devices in space
    Messenger, S.R. ; Xapsos, M.A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 44 (1997-12-01), Heft 6, S. 2169-2173
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Free-ion yield for tetramethylsilane and tetramethylgermanium
    Hoshi, Y. ; Higuchi, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 40 (1993-08-01), Heft 4, S. 532-536
    Online academicJournal
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    Radiation damage to tetramethlysilane and tetramethlygermanium ionization chambers
    Hoshi, Y. ; Higuchi, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 41 (1994-08-01), Heft 4, S. 853-855
    Online academicJournal
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    Luminescence and ESR Study of Irregular Ce$^{3+}$ Ions in LuAG:Ce Single Crystals
    Babin, V. ; Laguta, V. V. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-06-01), Heft 3, S. 1156-1159
    Online academicJournal
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