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    Systematic transient characterization of graphene interconnects for on-chip ESD protection
    Chen, Qi ; Ma, Rui ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Bidirectional NPN ESD protection in silicon photonics technology
    Boschke, Roman ; Chen, Shih-Hung ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Experimental study of supply voltage stability during ESD
    Xiu, Yang ; Mertens, Robert ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Modeling feedback effects in metal under ESD stress
    Maloney, Timothy J.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    ESD self-protection design on 2.4-GHz T/R switch for RF application in CMOS process
    Lin, Chun-Yu ; Liu, Rui-Hong ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Unique ESD behavior and failure modes of AlGaN/GaN HEMTs
    Shankar, Bhawani ; Shrivastava, Mayank
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Analysis of ESD effects on organic thin-film-transistors by means of TLP technique
    Wrachien, N. ; Barbato, M. ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Optimization of PESD implant design for ESD robustness of 5V drain-back N-LDMOSFET
    Chiang, Chun ; Chang, Ping-Chen ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Volltext
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    New insights on the ESD behavior and failure mechanism of multi wall CNTs
    Mishra, Abhishek ; Shrivastava, Mayank
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    FinFET SCR structure optimization for high-speed serial links ESD protection
    Chu, Li-Wei ; Chang, Yi-Feng ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Interposer FPGA with self-protecting ESD design for inter-die interfaces and its CDM specification
    Karp, James ; Hart, Michael ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Impact of wafer thinning on front-end reliability for 3D integration
    Chasin, Adrian ; Scholz, Mirko ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Improving the long pulse width failure current of NPN in BiCMOS technology
    Xiu, Yang ; Appaswamy, Aravind ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    Failure mechanism of high-voltage isolated lateral diffused NMOS under high-current events
    Wu, Cheng-Hsu ; Lien, Chen-Hsin ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
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    On-chip protection in precision integrated circuits operating at high voltage and high temperature
    Zhao, James ; Salcedo, Javier A. ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Online Konferenz
    Zugriff:
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