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    Foreword
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Test Technology Educational Program (TTEP) Tutorials
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Small Delay Fault Model for Intra-Gate Resistive Open Defects
    Arai, Masayuki ; Suto, Akifumi ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 27
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Defect Detection Differences between Launch-Off-Shift and Launch-Off-Capture in Sense-Amplifier-Based Flip-Flop Testing
    Konuk, Haluk
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 33
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    A Synthesis Method to Alleviate Over-Testing of Delay Faults Based on RTL Don't Care Path Identification
    Yoshikawa, Yuki ; Ohtake, Satoshi ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 71
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Recursive Path Selection for Delay Fault Testing
    Chung, Jaeyong ; Abraham, Jacob A.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 65
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Automated Selection of Signals to Observe for Efficient Silicon Debug
    Yang, Joon-Sung ; Touba, Nur A.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 79
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Effective and Efficient Test Pattern Generation for Small Delay Defect
    Goel, Sandeep Kumar ; Devta-Prasanna, Narendra ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 111
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Compact Delay Test Generation with a Realistic Low Cost Fault Coverage Metric
    Wang, Zheng ; Walker, Duncan M.H.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 59
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Efficient Scheduling of Path Delay Tests for Latch-Based Circuits
    Chung, Kun Young ; Gupta, Sandeep K.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 103
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A High-Level Signal Integrity Fault Model and Test Methodology for Long On-Chip Interconnections
    Chun, Sunghoon ; Kim, Yongjoon ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 152
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Output Hazard-Free Transition Delay Fault Test Generation
    Menon, Sreekumar ; Singh, Adit D. ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 97
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Experimental Validation of a BIST Techcnique for CMOS Active Pixel Sensors
    Lizarraga, Livier ; Mir, Salvardor ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 189
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Controlling DPPM through Volume Diagnosis
    Yu, Xiaochun ; Lin, Yen-Tzu ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 134
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The ATPG Conflict-Driven Scheme for High Transition Fault Coverage and Low Test Cost
    Chen, Zhen ; Xiang, Dong ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 146
    Online Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Predictive Test Technique for Diagnosis of RF CMOS Receivers
    Suenaga, K. ; Bota, S. ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 129
    Online Konferenz
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    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    False Path Aware Timing Yield Estimation under Variability
    Xie, Lin ; Davoodi, Azadeh ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 161
    Online Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Scalable Compact Test Pattern Generation for Path Delay Faults Based on Functions
    Flanigan, Edward ; Tragoudas, Spyros ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 140
    Online Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Restrict Encoding for Mixed-Mode BIST
    Hakmi, Abdul-Wahid ; Holst, Stefan ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 179
    Online Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    RT-Level Deviation-Based Grading of Functional Test Sequences
    Fang, Hongxia ; Chakrabarty, Krishnendu ; et al.
    In: 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium, 2009-05-01, S. 264
    Online Konferenz
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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